CAMECA Logo
Search
Contactos Mundial - Serviço & Suporte


Home
 
AMETEK Materials Analysis Division
CAMECA Web Site
LÍDER MUNDIAL EM MICRO E NANO ANÁLISE
spacer-10pix-high  
Instrumentos de Pesquisa
Científica

Os instrumentos CAMECA fornecem dados de composição elementar e isotópica sobre a superfície, próximo à superfície e interface dos materiais sólidos, de mícrons à escala subnanométrica e equipa os mais prestigiados governos e laboratórios de universidades assim como líderes das empresas na indústria de alta tecnologia em todo o mundo.
Técnicas analíticas incluem SIMSEPMA e APT, cobrindo uma vasta gama de aplicações:

Materiais (metais, ligas, revestimentos, multicamadas magnetostritivas, policristalinos, cerâmicas, vidro, materiais radioativos, segregação, corrosão, contaminação…)
Semicondutores, LED, PV (filmes finos, polisilicone, fotovoltaicos, CIGS, perfis de profundidade de implantes...)
Ciências Planetárias e da Terra (geocronologia, mineralogia, geoquímica, estudos ambientais, isótopos estáveis e análise de elementos traça, ciência forense nuclear…)
Ciências Humanas (celular e microbiologia, ecologia microbiana do solo, identificação filogenética, detenção in-loco de moléculas a nível intra-celular…)

Research 
Ferramentas de Metrologia
para Semicondutores

A CAMECA desenvolve equipamentos de metrologia de linha e próximos com base nas técnicas analíticas LEXES e SIMS. Cumprindo os requisitos de rápido desenvolvimento e produção em massa com alto rendimento, as nossas ferramentas foram adotadas pelos melhores fabricantes de semicondutores a nível mundial.

Os principais problemas de controle de processo são destinados a: composição química e espessura de substratos, HKMG, camadas epitaxiais como B.SiGe, implantes superficiais, dosimetria dopante, mapeamento de pastilha, análise de assinaturas, reconhecimento de padrões...

equipamentos de metrologia 
Sobre CAMECA

Desde a sua criação em 1929, CAMECA tem evoluído de um fabricante de instrumentação científica para a comunidade científica internacional para um provedor de soluções de metrologia para a indústria de semicondutores. A CAMECA foi pioneira e se aperfeiçoou em várias das principais técnicas de microanálise:
• Espectrometria de massa de íons secundários (SIMS),
• Tomografia de Sonda Atômica (APT),
• Microanálise de Sonda de Elétrons (EPMA),
• Espectroscopia de emissão de raio-X de elétron induzida de baixa energia (LEXES)

Em 2007, a CAMECA se uniu à AMETEK, Inc., provedor mundial líder de produtos eletrônicos e eletromecânicos, como parte da AMETEK Divisão de Análise de Materiais. Sediada perto de Paris, França, a CAMECA tem subsidiárias nos EUA, Alemanha, Japão, Coréia, China, Taiwan e uma rede global de agentes garantindo o melhor nível de apoio a todos os usuários.
Nós convidamos você a visitar o nosso site para mais informações sobre os nossos equipamentos de micro e nano análise. Ao entrar no site, encontrará todo o conteúdo em Inglês.

Clique aqui para entrar!
instrumentos de pesquisa - ferramentas de metrologia - aplicações - publicações do usuário - notícias - conferências - empresa - locais
Atom Probe Tomography (APT) - SIMS - EPMA - LEXES
© 2010 AMETEK, Inc - CAMECA SAS. All Rights Reserved - www.ametek.com
privacy - trademarks - sitemap