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마이크로에서 초미세 나노 단위 측정이 가능한 정량 분석의 글로벌 선두 기업
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R&D
초정밀 분석 장비

CAMECA의 초정밀 분석 장비는 마이크로 단위에서 초미세 나노 단위에 이르는 정량 원소 분석과 동위 원소 분석 솔루션을 제공하고 있으며 세계 주요 정부와 대학 연구소 및 유수 기업에 최상의 설비를 공급하여, 전 세계 하이테크 산업을 선도하고 있습니다.
SIMSEPMAAPT - 하이테크 분석 기술을 기반으로 다양한 분야에서 최적의 솔루션을 제공하고 있습니다.

소재: 금속, 합금, 코팅, 자왜 적층, 다결정체, 세라믹, 유리, 방사성 소재, Segregation,, 부식, 오염 등
반도체, LED, PV(폴리실리콘, 결정형 실리콘, 박막, CIGS, Implant 등)
지구 및 행성 과학: 지질 연대학, 광물학, 지구 화학, 환경 연구, 안정 동위 원소 및 미량 원소 분석, 핵 법의학 등
생명 과학: 세포 및 미생물학, 토양 미생물 생태학, 계통 발생적 분류, 세포 내 분자 원위치 탐지 분석 등

Research 
In-Line
반도체 계측 장비

CAMECA는 LEXES 및 SIMS 분석 기술을 기반으로 Fab에서 사용하실 수 있는 계측 장비를 공급하고 있습니다. 당사의 제품은 대량 생산에 대응할 수 있도록 고속의 계측 장비를 개발하여 세계 유수의 반도체 제조사들이 최적의 솔루션으로 사용하고 있습니다.

합성박막의 원소 및 두께, HKMG, 에피택시 계층(B:SiGe), Shallow Implant, 성분 분석에 대한 솔루션을 웨이퍼 매핑, 잔류물 분석, 패턴 인식 등을 통해 자동제어로 구현합니다.

Semiconductor Metrology 
CAMECA 소개

1929년 세계 여러 나라의 주요 연구 지원을 위한 정밀과학 장비 제조업체로 출범한 CAMECA는 현재 최첨단의 반도체 계측 솔루션 공급업체로 성장하여 초정밀 정량 분석 기술을 개척 및 발전시켜 왔습니다.
SIMS(이차 이온 질량 분석),
APT(3차원 원자 형상 분석),
EPMA(전자 탐침 미소 분석),
LEXES(저에너지 특성 X선 분석)

2007년 CAMECA는 AMETEK Materials Analysis Division의 일원으로 전 세계 전자 및 전기 기계 제품의 주요 공급업체인 AMETEK, Inc.와 합병했습니다. 프랑스 파리 인근에 본사가 있는 CAMECA는 미국, 독일, 일본, 한국, 중국, 대만 소재 자회사 및 글로벌 대리점 망을 통해 모든 사용자들에게 최상의 지원을 보장합니다.
마이크로에서 나노 단위의 초정밀 정량 분석 솔루션에 대한 자세한 내용은 당사 웹 사이트를 통해 확인하실 수 있으며, 모든 컨텐츠 및 문의 사항은 영어로 지원됩니다.

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Atom Probe Tomography (APT) - SIMS - EPMA - LEXES
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